专利

中文主页 - 科学研究 - 专利

一种基于自适应发射率模型的多光谱测温装置及其测温方法

点击次数：

是否职务专利：否

申请日期：2022-06

上一条：
一种基于有效发射率的复杂环境下涡轮叶片辐射测温方法和装置
下一条：
一种基于围道积分的涡轮叶片辐射测温中背景辐射影响修正方 法

官网      手机版

访问量： 次

开通时间：--

最后更新时间：--